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BS EN 62228-2:2017 Integrated circuits. EMC evaluation of transceivers - LIN transceivers, 2017
- 30310473-VOR.pdf [Go to Page]
- English [Go to Page]
- CONTENTS
- FOREWORD
- 1 Scope
- 2 Normative references
- 3 Terms, definitions and abbreviations [Go to Page]
- 3.1 Terms and definitions
- 3.2 Abbreviations
- 4 General
- 5 Test and operating conditions [Go to Page]
- 5.1 Supply and ambient conditions
- 5.2 Test operation modes
- 5.3 Test configuration [Go to Page]
- 5.3.1 General test configuration for functional test
- 5.3.2 General test configuration for unpowered ESD test
- 5.3.3 Coupling ports and coupling networks for functional tests
- 5.3.4 Coupling ports and coupling networks for unpowered ESD tests
- 5.4 Test signals [Go to Page]
- 5.4.1 General
- 5.4.2 Test signals for normal operation mode
- 5.4.3 Test signal for wake-up from sleep mode
- 5.5 Evaluation criteria [Go to Page]
- 5.5.1 General
- 5.5.2 Evaluation criteria in functional operation modes during exposure to disturbances
- 5.5.3 Evaluation criteria in unpowered condition after exposure to disturbances
- 5.5.4 Status classes
- 6 Test and measurement [Go to Page]
- 6.1 Emission of RF disturbances [Go to Page]
- 6.1.1 Test method
- 6.1.2 Test setup
- 6.1.3 Test procedure and parameters
- 6.2 Immunity to RF disturbances [Go to Page]
- 6.2.1 Test method
- 6.2.2 Test setup
- 6.2.3 Test procedure and parameters
- 6.3 Immunity to impulses [Go to Page]
- 6.3.1 Test method
- 6.3.2 Test setup
- 6.3.3 Test procedure and parameters
- 6.4 Electrostatic Discharge (ESD) [Go to Page]
- 6.4.1 Test method
- 6.4.2 Test setup
- 6.4.3 Test procedure and parameters
- 7 Test report
- Annex A (normative) LIN test circuits [Go to Page]
- A.1 General
- A.2 LIN test circuit for standard LIN transceiver ICs for functional tests
- A.3 LIN test circuit for IC with embedded LIN transceiver for functional tests
- A.4 LIN test circuit for LIN transceiver ICs for unpowered ESD test
- Annex B (normative) Test circuit boards [Go to Page]
- B.1 Test circuit board for functional tests
- B.2 ESD test
- Annex C (informative) Examples for test limits for LIN transceiver in automotive application [Go to Page]
- C.1 General
- C.2 Emission of RF disturbances
- C.3 Immunity to RF disturbances
- C.4 Immunity to impulses
- C.5 Electrostatic Discharge (ESD)
- Annex D (informative) Test of indirect ESD discharge [Go to Page]
- D.1 General
- D.2 Test setup
- D.3 Typical current wave form for indirect ESD test
- D.4 Test procedure and parameters
- Figures [Go to Page]
- Figure 1 – General test configuration for tests in functional operation modes
- Figure 2 – General test configuration for unpowered ESD test
- Figure 3 – Coupling ports and networks for functional tests
- Figure 4 – Coupling ports and networks for unpowered ESD tests
- Figure 5 – Principal drawing of the maximum deviation on an IV characteristic
- Figure 6 – Test setup for measurement of RF disturbances
- Figure 7 – Test setup for DPI tests
- Figure 8 – Test setup for impulse immunity tests
- Figure 9 – Test setup for direct ESD tests
- Figure A.1 – General drawing of the circuit diagram of test network for standard LIN transceiver ICs for functional test
- Figure A.2 – General drawing of the circuit diagram of the test network for ICs with embedded LIN transceiver for functional test
- Figure A.3 – General drawing of the circuit diagram for direct ESD tests of LIN transceiver ICs in unpowered mode
- Figure B.1 – Example of IC interconnections of LIN signal
- Figure B.2 – Example of ESD test board for LIN transceiver ICs
- Figure C.1 – Example of limits for RF emission
- Figure C.2 – Example of limits for RF immunity for functional status class AIC
- Figure C.3 – Example of limits for RF immunity for functional status class CIC or DIC
- Figure D.1 – Test setup for indirect ESD tests
- Figure D.2 – Example of ESD current wave form for indirect ESD test at VESD = 8 kV
- Tables [Go to Page]
- Table 1 – Overview of required measurements and tests
- Table 2 – Supply and ambient conditions for functional operation
- Table 3 – Definition of coupling ports and coupling network component values for functional tests
- Table 4 – Definitions of coupling ports for unpowered ESD tests
- Table 5 – Communication test signal TX1
- Table 6 – Communication test signal TX2
- Table 7 – Wake-up test signal TX3
- Table 8 – Evaluation criteria for Standard LIN transceiver IC in functional operation modes
- Table 9 – Evaluation criteria for ICs with embedded LIN transceiver in functional operation modes
- Table 10 – Definition of functional status classes
- Table 11 – Parameters for emission measurements
- Table 12 – Settings of the RF measurement equipment
- Table 13 – Specifications for DPI tests
- Table 14 – Required DPI tests for functional status class AIC evaluation of standard LIN transceiver ICs
- Table 15 – Required DPI tests for functional status class AIC evaluation of ICs with embedded LIN transceiver
- Table 16 – Required DPI tests for functional status class CIC or DIC evaluation of standard LIN transceiver ICs and ICs with embedded LIN transceiver
- Table 17 – Specifications for impulse immunity tests
- Table 18 – Parameters for impulse immunity test
- Table 19 – Required impulse immunity tests for functional status class AIC evaluation of standard LIN transceiver ICs
- Table 20 – Required impulse immunity tests for functional status class AIC evaluation of ICs with embedded LIN transceiver
- Table 21 – Required impulse immunity tests for functional status class CIC or DIC evaluation of standard LIN transceiver ICs and ICs with embedded LIN transceiver
- Table 22 – Recommendations for direct ESD tests
- Table B.1 – Parameter ESD test circuit board
- Table C.1 – Example of limits for impulse immunity for functional status class CIC or DIC
- Table D.1 – Specifications for indirect ESD tests
- Français [Go to Page]
- SOMMAIRE
- AVANT-PROPOS
- 1 Domaine d’application
- 2 Références normatives
- 3 Termes, définitions et abréviations [Go to Page]
- 3.1 Termes et définitions
- 3.2 Abréviations
- 4 Généralités
- 5 Conditions d’essai et conditions de fonctionnement [Go to Page]
- 5.1 Conditions d’alimentation et conditions ambiantes
- 5.2 Modes de fonctionnement pour l’essai
- 5.3 Configuration d’essai [Go to Page]
- 5.3.1 Configuration d’essai générale pour les essais dans les modes fonctionnels
- 5.3.2 Configuration d’essai générale pour l’essai de décharge électrostatique en mode passif
- 5.3.3 Broches de connexion et réseaux de couplage pour les essais dans les modes fonctionnels
- 5.3.4 Broches de connexion et réseaux de couplage pour l’essai de décharge électrostatique en mode passif
- 5.4 Signaux d’essai [Go to Page]
- 5.4.1 Généralités
- 5.4.2 Signaux d’essai pour le mode fonctionnel normal
- 5.4.3 Signal d’essai pour la phase de réveil du mode veille
- 5.5 Critères d’évaluation [Go to Page]
- 5.5.1 Généralités
- 5.5.2 Critères d’évaluation dans les modes fonctionnels lors de l’exposition aux perturbations
- 5.5.3 Critères d’évaluation en mode passif, après exposition aux perturbations
- 5.5.4 Classes d’état
- 6 Essai et mesure [Go to Page]
- 6.1 Emission de perturbations radioélectriques [Go to Page]
- 6.1.1 Méthode d’essai
- 6.1.2 Disposition d’essai
- 6.1.3 Mode opératoire d’essai et paramètres
- 6.2 Immunité aux perturbations radioélectriques [Go to Page]
- 6.2.1 Méthode d’essai
- 6.2.2 Disposition d’essai
- 6.2.3 Mode opératoire d’essai et paramètres
- 6.3 Immunité aux impulsions [Go to Page]
- 6.3.1 Méthode d’essai
- 6.3.2 Disposition d’essai
- 6.3.3 Mode opératoire d’essai et paramètres
- 6.4 Décharge électrostatique [Go to Page]
- 6.4.1 Méthode d’essai
- 6.4.2 Disposition d’essai
- 6.4.3 Mode opératoire d’essai et paramètres
- 7 Rapport d’essai
- Annexe A (normative) Circuits d’essai LIN [Go to Page]
- A.1 Généralités
- A.2 Circuit d’essai LIN pour essais dans les modes fonctionnels des CI émetteurs-récepteurs LIN standard
- A.3 Circuit d’essai LIN pour les CI avec émetteur-récepteur LIN intégré, dans les modes fonctionnels
- A.4 Circuit d’essai LIN pour essais en mode passif des CI émetteurs-récepteurs LIN
- Annexe B (normative) Cartes d’essai [Go to Page]
- B.1 Carte d’essai pour les essais dans les modes fonctionnels
- B.2 Essai de décharge électrostatique
- Annexe C (informative) Exemples de limites d’essai pour les émetteurs-récepteurs LIN dans les applications automobiles [Go to Page]
- C.1 Généralités
- C.2 Emission de perturbations radioélectriques
- C.3 Immunité aux perturbations radioélectriques
- C.4 Immunité aux impulsions
- C.5 Décharge électrostatique
- Annexe D (informative) Essai de décharge électrostatique indirecte [Go to Page]
- D.1 Généralités
- D.2 Disposition d’essai
- D.3 Forme d’onde de courant typique pour l’essai de décharge électrostatique indirecte
- D.4 Mode opératoire d’essai et paramètres
- Figures [Go to Page]
- Figure 1 – Configuration générale pour les essais dans les modes fonctionnels
- Figure 2 – Configuration générale pour l’essai de décharge électrostatique en mode passif
- Figure 3 – Broches de connexion et réseaux de couplage pour les essais dans les modes fonctionnels
- Figure 4 – Broches de connexion et réseaux de couplagepour l’essai de décharge électrostatique en mode passif
- Figure 5 – Schéma principal de l’écart maximal sur la caractéristique IV
- Figure 6 – Disposition d’essai pour la mesure des perturbations radioélectriques
- Figure 7 – Disposition d’essai pour les essais DPI
- Figure 8 – Disposition d’essai pour les essais d’immunité aux impulsions
- Figure 9 – Disposition d’essai pour les essais de décharge électrostatique directe
- Figure A.1 – Schéma général du circuit du réseau d’essai des CI émetteurs-récepteurs LIN standard, dans les modes fonctionnels
- Figure A.2 – Schéma général du circuit du réseau d’essai des CI avec émetteur-récepteur LIN intégré, dans les modes fonctionnels
- Figure A.3 – Schéma général du circuit pour les essais de décharge électrostatique directe des CI émetteurs-récepteurs LIN, en mode passif
- Figure B.1 – Exemple d’interconnexions de CI pour transfert de signal LIN
- Figure B.2 – Exemple de carte d’essai de DES pour les CI émetteurs-récepteurs LIN
- Figure C.1 – Exemple de limites pour les émissions radioélectriques
- Figure C.2 – Exemple de limites pour l’immunité aux perturbations radioélectriques, pour la classe d’état fonctionnel AIC
- Figure C.3 – Exemple de limites pour l’immunité aux perturbations radioélectriques, pour les classes d’état fonctionnel CIC et DIC
- Figure D.1 – Disposition d’essai pour les essais de décharge électrostatique indirecte
- Figure D.2 – Exemple de forme d’onde de courant de DES pour l’essai de décharge électrostatique indirecte à VESD = 8 kV
- Tableaux [Go to Page]
- Tableau 1 – Vue d’ensemble des mesures et essais exigés
- Tableau 2 – Conditions d’alimentation et conditions ambiantes pour le fonctionnement
- Tableau 3 – Définitions des valeurs des composantes des broches de connexion et des réseaux de couplage pour les essais fonctionnels
- Tableau 4 – Définitions des broches de connexion pour l’essaide décharge électrostatique en mode passif
- Tableau 5 – Signal d’essai de communication TX1
- Tableau 6 – Signal d’essai de communication TX2
- Tableau 7 – Signal d’essai de réveil TX3
- Tableau 8 – Critères d’évaluation pour les CI émetteurs-récepteurs LIN standard dans les modes fonctionnels
- Tableau 9 – Critères d’évaluation pour les CI avec émetteur-récepteur LINintégré dans les modes fonctionnels
- Tableau 10 – Définition des classes d’état fonctionnel
- Tableau 11 – Paramètres pour les mesures des émissions
- Tableau 12 – Paramètres des équipements de mesure des émissions radioélectriques
- Tableau 13 – Spécifications pour les essais DPI
- Tableau 14 – Essais DPI exigés pour l’évaluation de la classe d’état fonctionnel AIC pour les CI émetteurs-récepteurs LIN standard
- Tableau 15 – Essais DPI exigés pour l’évaluation de la classe d’état fonctionnel AIC pour les CI avec émetteur-récepteur LIN intégré
- Tableau 16 – Essais DPI exigés pour l’évaluation de la classe d’état fonctionnel CIC ou DIC pour les CI émetteurs-récepteurs LIN standard et les CI avec émetteur-récepteur LIN intégré
- Tableau 17 – Spécifications pour les essais d’immunité aux impulsions
- Tableau 18 – Paramètres de l’essai d’immunité aux impulsions
- Tableau 19 – Essais d’immunité aux impulsions exigés pour l’évaluation de la classe d’état fonctionnel AIC pour les CI émetteurs-récepteurs LIN standard
- Tableau 20 – Essais d’immunité aux impulsions exigés pour l’évaluation de la classe d’état fonctionnel AIC pour les CI avec émetteur-récepteur LIN intégré
- Tableau 21 – Essais d’immunité aux impulsions exigés pour l’évaluation de la classe d’état fonctionnel CIC ou DIC pour les CI émetteurs-récepteurs LIN standard et les CI avec émetteur-récepteur LIN intégré
- Tableau 22 – Recommandations pour les essais de décharge électrostatique directe
- Tableau B.1 – Paramètres de la carte d’essai de DES
- Tableau C.1 – Exemple de limites pour l’immunité aux perturbations radioélectriques, pour les classes d’état fonctionnel CIC et DIC
- Tableau D.1 – Spécifications pour les essais de décharge électrostatique indirecte [Go to Page]